一、晶振

晶振是晶體振蕩器的簡稱。晶體振蕩器是指從一塊石英晶體上按一定方位角切下薄片（簡稱為晶片），石英晶體諧振器，簡稱為石英晶體或晶體、晶振；而在封裝內(nèi)部添加IC組成振蕩電路的晶體元件稱為晶體振蕩器。其產(chǎn)品一般用金屬外殼封裝，也有用玻璃殼、陶瓷或塑料封裝的。

晶振的參數(shù)有很多，主要包括：振蕩頻率及其偏差、負(fù)載電容、驅(qū)動功率、等效阻抗、Ｑ值、工作溫度等，晶體振蕩電路最重要參數(shù)的就是保持工作在一個穩(wěn)定的頻率，所以該文章主要是如何針對晶振頻率進(jìn)行高精度測試。

在傳統(tǒng)的測量儀器中，示波器測量頻率的主要問題是測試垂直分辨率太低（8位ADC）、測量數(shù)值的位數(shù)不足，測試值的波動大、誤差大精度低，即不適合作為頻率的精確測試，頻譜儀可以準(zhǔn)確的測量頻率并顯示被測信號的頻譜，但測量速度較慢，無法實時快速的跟蹤捕捉到被測信號頻率的變化。而頻率計數(shù)器能夠快速準(zhǔn)確的捕捉到被測信號頻率的變化，因此，頻率計擁有非常廣泛的測試應(yīng)用，也是性價比最高的選擇。

二、頻率計數(shù)器簡介

頻率計數(shù)器是用來測量頻率、頻率比、周期、時間間隔、累加計數(shù)的測試儀器，頻率計數(shù)器能在給定時間內(nèi)計算出所通過的脈沖數(shù)并顯示計數(shù)結(jié)果的數(shù)字化儀器。通用計數(shù)器是用數(shù)字顯示被測信號頻率的測量儀器，被測量的信號可以是方波、正弦波或其它周期性變化的信號，頻率計數(shù)器操作簡單，價格便宜、可編程兼容系統(tǒng)測試應(yīng)用要求。可廣泛的應(yīng)用于各頻率產(chǎn)品的測試中。

三、頻率計測試項目

頻率:  

頻率 A, B or C；輔助參數(shù): Vmax, Vmin, Vp-p

頻率比例 A/B, B/A, C/A, C/B；輔助參數(shù): Freq 1, Freq 2

突發(fā)頻率 (FCA3020, FCA3120)；輔助參數(shù): PRF

周期:  單次或平均；輔助參數(shù): Vmax, Vmin, Vp-p

時間:  時間間隔A to B, A to A, B to A, B to B；上升時間/下降時間

脈沖:  正/負(fù)脈沖寬度 A & B；正負(fù)占空比

相位:  A Relative B, B Relative A

電壓:  Vmin, Vmax, V p-p

功率:  dBm or Watts (MCA series only)

●主要型號參數(shù)參考 ●